SHOWROOM DE: TESCAN


Microscopio SEM FE de Alto Vacío MIRA I LMH

Microscopio SEM Schottky FE de Alta Resolución y Alto Vacío MIRA LMH


Descripción

Microscopio electrónico SEM FE de Alta Resolución que opera a alto vacío.

Puntos fuertes:

* Emisor Schottky de Alto Brillo para alta resolución / alta corriente / bajo ruido.

* Diseño único de tres lentes Wide Field Optics™ que ofrece una variedad de modos de trabajo y visualización que integran las lentes propietarias intermedias para la optimización de la apertura del haz.

* Real time In-Flight Beam Tracing™ for the performance and spot optimisation integrating the well established software Electron Optical Design.

* Alta velocidad de visualización.

* Automatización de Alto Rendimiento y Área Grande, por ejemplo, localización de partículas y análisis automatizados.

* Extraordinario potencial de análisis - Cámara de 11 puertos con geometría optimizada, lo que permite realizar en forma simultánea EDS, WDS y EBSD.

* Ajuste totalmente automatizado del microscopio incluyendo óptica y alineación.

* Software softisticado para el control del microscopio, adquisición de datos, archivado, procesamiento y análisis.

* Operaciones en red y acceso/diagnóstico remoto integrado, todo esto viene como estándar de Tescan.


Especificaciones


a) Especificaciones esenciales

Resolución
En modo de alto vacío (SE) < 2.0 nm a 30 KV
Vacío de Trabajo

Cámara - Modo de Alto Vacío

< 1 x 10-2 Pa
Vacío del cañon < 1 x 10-6 Pa
Modos de Operación
Alto Vacío
  • Resolución
  • Profundidad de campo
  • Campo amplio
  • Ojo de pes
  • Rocking beam
Magnificación a 30kV/30mm

A 30 KV

13 - 1 000 000 X

Mínima en el modo Ojo-de-Pes

Cerca de 4X
Voltaje de aceleración
500 V a 30 KV
Cañón de Electrones
Emisor Schottky de Alto Brillo
Corriente de haz
2 pA a 20 nA
Barridos
Velocidad de barridos
De 200 ns a 10 ms por pixel ajustable en pasos o continuo.
Ventana de Foco:
Forma, tamaño y posición continuamente ajustable
Tamaño de imagen
Hasta 4 096 x 4 096 pixels, ajustable separadamente para imágenes en vivo (en 4 pasos) y para imágenes almacenadas (9 pasos), cuadrados o rectángulos con relación 3:4 o 1:2 a elegir.
Control del Microscopio
Todos las funciones del microscopio se controlan por medio de la PC por medio del programa MiraTC usando la plataforma de Windows™
Acceso Remoto
Via TCP/IP
Procedimientos automáticos
  • Corriente de la Sonda y tamaño del punto ajustable en forma contínuam por In-Flight Beam Tracing™
  • Control de vacío
  • Alineación del cañón.
  • Compensación para kV
  • Corriente del haz optimizado para un tamaño del haz.
  • Tamaño del Spot optimizado para los aumentos.
  • Velocidad de barrido.
  • Contraste y Brillo.
  • Foco y Astigmatismo.
  • Look up Table.

b) Cámara de la muestra

Cámara LM
Tamaño interno ø230 mm
Ancho de la puerta 148 mm
Número de puertos 11
Suspensión de la cámara Neumática
Platina porta muestra
Tipo Semi-compucéntrico
Movimientos X= 80 mm - motorizada
Y= 60 mm - motorizada
Z= 47 mm - manual
Rot.: 360° continuo - motorizado
Inclinación: -75° a +50° con una distancia de trabajo de 15 mm y para altura eucéntrica del especimen.
Máxima altura del especimen: 60 mm.


Configuración estándar del microscopio MIRA LMH:

* Detector SE tipo ET.

* Detector retraible BSE.

* Medición de corriente del cañón de electrones.

* Alama de toque.

* Cámara de video en la cámara de la muestra.


Software estándar:

* Medición.

* Operaciones de imágen.

* Procesamiento de imágen.

* Barrido 3D.

* Dureza.

* Calibrador multi imágen.

* Área de objetos.

* Print magnification.

* Switch-Off Timer.

* Tolerancia.


Opciones:

* Detector TE.

* EBIC.

* EDX.

* WDX.

* EBSD.

* Enfriamiento de la platina

y para software:

* Morfología.

* Análisis de partículas.

* Image Snnaper.

* Image Observer.

* Mouse Link.


Documentación.

Folleto Mira LM (inglés)

351 KB

Folleto Tescan 2007 (inglés)

2,147 KB


Las especificaciones están sujetas a cambios sin previo aviso.

Atras


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